Электронный микроскоп Schottky в Ташкент

Описание

Современный FE-SEM требует не только высокой производительности, но и множества функций, включая наблюдение на большой площади, анализ на месте, переменное давление, визуализацию с высоким разрешением при низких ускоряющих напряжениях и одновременный сбор нескольких сигналов.